ISO 26262硬件安全機制自檢
自檢??
根據(jù)自檢方法,自檢安全機制一般可以分為:?
軟件自檢
對安全相關(guān)路徑中的使用到的指令,利用預(yù)先設(shè)置好或自動生成的數(shù)據(jù)或代碼,對物理存儲(例如,數(shù)據(jù)和地址寄存器)或運算器及控制器(例如,指令解碼器),或者它們兩者進行檢測。
硬件自檢
在控制單元內(nèi)部集成專用自檢硬件,最常見的就是內(nèi)建自測試(BIST),通過在芯片設(shè)計中加入額外自測試電路,測試時從外部施加控制信號,運行內(nèi)部自測試硬件和軟件,檢查電路缺陷或故障,是防止故障潛伏的重要安全機制。
BIST一般僅在處理單元初始化或者下電時運行,所以不能覆蓋瞬態(tài)故障,根據(jù)其自檢時間一般可以分為:
1、Online Self-test: 在車輛啟動時間限制內(nèi)盡可能多地進行測試。
2、Offline Self-test: 車輛停機或診斷測試,最大的測試覆蓋率,車輛斷電時沒有時間限制。
3、Periodic Self-test: 車輛在正常操作模式下,進行的診斷測試。
而根據(jù)其自檢的內(nèi)容,BIST又可以分為:
1、MBIST(Memory?Built-In Self?Test):?對memory,包括RAM或ROM,進行讀寫測試操作,判斷Memory是否有制造缺陷,屬于內(nèi)存相關(guān)的安全機制。
2、LBIST(Logic Built-In Self Test):?對芯片內(nèi)邏輯電路進行自檢,屬于處理器相關(guān)安全機制。
其中,LBIST是硬件自檢非常重要的安全機制,其工作原理如下圖所示:
具體來講,首先利用測試生成器,生成測試向量,然后將測試向量輸入被測試電路,最后BIST控制器將測試電路輸出結(jié)果和預(yù)存的結(jié)果進行對比,一旦二者存在差異,則表明被測試電路存在故障。
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