1.?測(cè)試目的

內(nèi)存壓力測(cè)試的目的是評(píng)估開(kāi)發(fā)板中的內(nèi)存子系統(tǒng)性能和穩(wěn)定性，以確保它能夠滿足特定的應(yīng)用需求。開(kāi)發(fā)板通常用于嵌入式系統(tǒng)、物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備、嵌入式智能家居等場(chǎng)景，這些場(chǎng)景對(duì)內(nèi)存的要求通常比較高。

其內(nèi)存壓力測(cè)試的主要目的有：

1.對(duì)確定內(nèi)存的可靠性：通過(guò)模擬高負(fù)載下的內(nèi)存使用情況，可以檢測(cè)內(nèi)存中的錯(cuò)誤和問(wèn)題，并確定開(kāi)發(fā)板是否能夠在穩(wěn)定的狀態(tài)下長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行。這有助于確保系統(tǒng)的可靠性和數(shù)據(jù)安全性。

2.發(fā)現(xiàn)內(nèi)存瓶頸：通過(guò)測(cè)試開(kāi)發(fā)板在處理大量數(shù)據(jù)時(shí)的性能表現(xiàn)，可以評(píng)估內(nèi)存訪問(wèn)速度、吞吐量、響應(yīng)時(shí)間等性能指標(biāo)，并確定系統(tǒng)在處理大量數(shù)據(jù)時(shí)的性能瓶頸所在。這有助于確定系統(tǒng)的性能極限，并采取相應(yīng)的優(yōu)化措施。

3.驗(yàn)證內(nèi)存兼容性：不同類型的內(nèi)存可能會(huì)影響開(kāi)發(fā)板的性能和穩(wěn)定性。通過(guò)內(nèi)存壓力測(cè)試可以驗(yàn)證不同類型的內(nèi)存是否兼容，以確保內(nèi)存與開(kāi)發(fā)板的兼容性。

4.測(cè)試系統(tǒng)容錯(cuò)性：通過(guò)模擬異常情況下的內(nèi)存使用情況，可以測(cè)試開(kāi)發(fā)板在處理異常情況時(shí)的表現(xiàn)，并確定開(kāi)發(fā)板能否在不影響數(shù)據(jù)完整性的情況下恢復(fù)正常工作。

2.1測(cè)試結(jié)果

在使用內(nèi)存壓力測(cè)試工具memtester測(cè)試內(nèi)存72小時(shí)以上期間，未發(fā)現(xiàn)內(nèi)存錯(cuò)誤、異常等現(xiàn)象。內(nèi)存模塊在測(cè)試條件下穩(wěn)定，循環(huán)測(cè)試中系統(tǒng)未出現(xiàn)無(wú)明顯卡頓或崩潰現(xiàn)象。測(cè)試結(jié)果表明，系統(tǒng)能夠在長(zhǎng)時(shí)間高負(fù)載占用內(nèi)存的工作環(huán)境下保持可靠性和穩(wěn)定性，具有較高的抗壓能力。

2.?測(cè)試原理

2.1memtester

Memtester是一種用于測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)存穩(wěn)定性和可靠性的工具。它可以模擬各種內(nèi)存負(fù)載情況，并檢測(cè)和報(bào)告內(nèi)存錯(cuò)誤。

Memtester可以在Linux和其他類Unix系統(tǒng)上運(yùn)行，并可以通過(guò)命令行或腳本進(jìn)行控制。它可以測(cè)試內(nèi)存的不同方面，包括內(nèi)存容量、內(nèi)存速度、內(nèi)存類型、內(nèi)存通道等。同時(shí)，它還可以測(cè)試系統(tǒng)的內(nèi)存管理和內(nèi)存分配機(jī)制，以確定系統(tǒng)是否能夠有效地管理和分配內(nèi)存。

使用Memtester進(jìn)行內(nèi)存測(cè)試時(shí)，需要指定測(cè)試的內(nèi)存容量和測(cè)試的時(shí)間長(zhǎng)度。測(cè)試過(guò)程中，Memtester會(huì)在內(nèi)存中模擬各種負(fù)載情況，例如寫(xiě)入隨機(jī)數(shù)據(jù)、重復(fù)寫(xiě)入相同數(shù)據(jù)、使用指定的模式寫(xiě)入數(shù)據(jù)等。在測(cè)試過(guò)程中，Memtester會(huì)檢測(cè)內(nèi)存中的錯(cuò)誤，并將錯(cuò)誤信息記錄到日志文件中。

通過(guò)使用Memtester，可以有效地測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)存的穩(wěn)定性和可靠性，以便確定系統(tǒng)是否能夠在各種負(fù)載情況下正常運(yùn)行。測(cè)試結(jié)果可以幫助開(kāi)發(fā)人員識(shí)別和解決內(nèi)存相關(guān)的問(wèn)題，并優(yōu)化系統(tǒng)的內(nèi)存性能。

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圖3.1?演示程序

2.1.1測(cè)試方法

memtester工具使用命令格式為memtester?[-p?內(nèi)存物理起始地址]?[測(cè)試內(nèi)存大小B/K/M/G]?[測(cè)試次數(shù)]。

命令格式不是固定的，可以省略部分。

????ⅰ.?省略測(cè)試次數(shù)，則連續(xù)進(jìn)行測(cè)試，直到手動(dòng)結(jié)束

????ⅱ.?省略內(nèi)存物理起始地址，則由系統(tǒng)隨機(jī)選擇空閑內(nèi)存測(cè)試

??b.?使用方法

????ⅰ.?對(duì)1G內(nèi)存測(cè)試100次

./memtester?1G?100

????ⅱ.?對(duì)2G內(nèi)存進(jìn)行連續(xù)測(cè)試

./memtester?1G?100

????ⅲ.?從0x00010000地址開(kāi)始測(cè)試1G內(nèi)存100次

./memtester?-p?0x10000?1G?100

3.?硬件準(zhǔn)備

HD-G2L-IOT?V2.2底板、HD-G2L-CORE?V2.0核心板（2GB+8GB）、網(wǎng)線、Type-c數(shù)據(jù)線、12V電源適配器、UART模塊、電腦主機(jī)。

4.?測(cè)試環(huán)境

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圖5.1?測(cè)試環(huán)境

5.?開(kāi)始內(nèi)存壓力測(cè)試

根據(jù)測(cè)試目的，運(yùn)行測(cè)試程序，申請(qǐng)1G內(nèi)存大小，連續(xù)運(yùn)行測(cè)試72小時(shí)以上。

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圖6.1?

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圖6.2?視頻播放

如圖6.1所示，編寫(xiě)測(cè)試腳本運(yùn)行memtester測(cè)試程序后先檢測(cè)是否存在memtester進(jìn)程，若有則殺掉進(jìn)程，若無(wú)則根據(jù)用戶輸入時(shí)間校準(zhǔn)評(píng)估板時(shí)間，最后輸入測(cè)試時(shí)長(zhǎng)（秒）開(kāi)始內(nèi)存壓力測(cè)試，達(dá)到測(cè)試時(shí)長(zhǎng)則結(jié)束測(cè)試。?

6.?結(jié)束內(nèi)存壓力測(cè)試

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圖7.1

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圖7.2

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圖7.3

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圖7.4?運(yùn)行情況

如圖7.1圖7.2圖7.3所示，memtester程序在運(yùn)行了72小時(shí)30分鐘后仍在運(yùn)行測(cè)試，說(shuō)明在此測(cè)試期間，持續(xù)高強(qiáng)度負(fù)載下，系統(tǒng)整體表現(xiàn)穩(wěn)定，無(wú)明顯卡頓或崩潰現(xiàn)象。內(nèi)存壓力測(cè)試159次后仍能夠保持在穩(wěn)定的水平。測(cè)試結(jié)果表明，系統(tǒng)能夠在長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)存壓力測(cè)試的工作環(huán)境下保持可靠性和穩(wěn)定性，具有較高的抗壓能力。

7.?關(guān)于HD-G2L-IOT

7.1硬件參數(shù)

HD-G2L-IOT板載的外設(shè)功能：

• 集成2路10M/100M/1000M自適應(yīng)以太網(wǎng)接口

• 集成Wi-Fi

• 集成2路RS-232接口

• 集成2路RS-485接口

• 集成2路CAN-bus接口

• 集成2路USB?Host

• 集成1路USB擴(kuò)展4G模塊接口（集成SIM卡接口）

• 集成1路USB擴(kuò)展5G模塊接口（集成SIM卡接口）

• 支持1路TF卡接口

• 支持液晶顯示接口（RGB信號(hào)）

• 支持4線電阻觸摸屏與電容屏接口

• 1路MIPI?DSI接口

• 1路攝像頭接口（MIPI?CSI）

• 支持音頻（耳機(jī)、MiC、SPK）

• 支持實(shí)時(shí)時(shí)鐘與后備電池

• 支持蜂鳴器與板載LED

• 支持GPIO

• 1路TTL調(diào)試串口

• 直流+12V電源供電（寬壓9~36V）

HD-G2L-CORE核心板硬件資源參數(shù)：