XRF、EDX、EDS三者的區(qū)別
1、定義
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XRF指的是X射線熒光光譜儀;
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EDX指的是能量散射型X射線熒光光譜儀,也有人叫EDXRF;
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EDS是能譜儀。
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2、應(yīng)用
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1)XRF的應(yīng)用
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a) X射線用于元素分析,是一種新的分析技術(shù),但在經(jīng)過二十多年的探索以后,現(xiàn)在已完全成熟,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域。
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b) 每個(gè)元素的特征X射線的強(qiáng)度除與激發(fā)源的能量和強(qiáng)度有關(guān)外,還與這種元素在樣品中的含量。
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c) 根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。
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優(yōu)點(diǎn):
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a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
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b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。
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c) 非破壞分析。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
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d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
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e) 分析精密度高。
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f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
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缺點(diǎn):
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a)難于作絕對分析,故定量分析需要標(biāo)樣。
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b)對輕元素的靈敏度要低一些。
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c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
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其實(shí)是一樣的,但是美國人一般叫EDS,英國人一般叫EDX,國內(nèi)叫EDS的多
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2)EDX也是屬于XRF的能量色散型,還有種WDX波長色散型,不過現(xiàn)在市面上多是EDX。
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XRF用的物理原理,通過X射線穿透原子內(nèi)部電子,由外層電子補(bǔ)給產(chǎn)生的能量差來判斷屬于何種元素。所以它只能測元素而不能測化合物。
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ICP則需要對樣品進(jìn)行溶解,采用的是化學(xué)方法,測試的是樣品的溶液,它的精確度和準(zhǔn)確度當(dāng)然比XRF要高了。
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WDXRF的X射線熒光出來后通過分光晶體分光,通過不同的波長逐一檢測。
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EDXRFX射線熒光出來后直接被檢測器收集,通過數(shù)模轉(zhuǎn)換得到結(jié)果。
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EDXRF體積小,價(jià)格相對較低,檢測速度比較快,但分辨率沒有WDXRF好。
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