HONEYWELL霍尼韋爾QCS系統(tǒng)5406700

磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。 渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。 00290700測(cè)厚儀板卡 00290800測(cè)厚儀板卡 00290900測(cè)厚儀板卡 00291000測(cè)厚儀板卡 00291300測(cè)厚儀板卡 00292900測(cè)厚儀板卡 00294500測(cè)厚儀板卡 00294900測(cè)厚儀板卡 00295200測(cè)厚儀板卡 00295600測(cè)厚儀板卡 00299200測(cè)厚儀板卡 00299475測(cè)厚儀板卡 00300700測(cè)厚儀板卡 00300900測(cè)厚儀板卡 00301800測(cè)厚儀板卡 00302700測(cè)厚儀板卡 00303400測(cè)厚儀板卡 00304100測(cè)厚儀板卡 00304600測(cè)厚儀板卡 00304700測(cè)厚儀板卡