通用嵌入式系統(tǒng)自動化測試平臺

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通用嵌入式系統(tǒng)測試平臺（Embedded System Interface Test Studio,簡稱： ETest）是針對嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行實時、閉環(huán)、非侵入式測試的自動化測試平臺，適用于嵌入式系統(tǒng)在設(shè)計、仿真、開發(fā)、調(diào)試、測試、集成驗證和維護(hù)等各階段配置項級別和系統(tǒng)級別的動態(tài)測試與驗證。

?ETest提供了針對嵌入式系統(tǒng)的半實物硬件在環(huán)仿真測試環(huán)境，通過模擬待測系統(tǒng)的外部環(huán)境并產(chǎn)生信號輸入到待測系統(tǒng)，同時獲取并分析待測系統(tǒng)的輸出信號，實現(xiàn)針對嵌入式系統(tǒng)的自動化功能測試。

?ETest具有適用范圍廣、通用性強(qiáng)、自動化測試程度高、擴(kuò)展性好、攜帶方便、配置靈活、操作簡單以及使用成本低等特點(diǎn)，能滿足軍事工業(yè)、工業(yè)控制、儀器儀表、汽車電子等各領(lǐng)域嵌入式系統(tǒng)的測試與驗證需求。

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1.1 ??ETest主要特點(diǎn)

2? 是一套完整的針對嵌入式系統(tǒng)的自動化動態(tài)確認(rèn)測試平臺，可以實現(xiàn)硬件在環(huán)、非侵入式的系統(tǒng)級測試，完成基于實裝難以完成的測試任務(wù)；

2? 集成測試資源管理、測試環(huán)境描述、協(xié)議腳本開發(fā)、測試用例設(shè)計、測試執(zhí)行監(jiān)控、測試任務(wù)管理等功能為一體；

2? 具有通用化的通信協(xié)議定義與描述語言處理環(huán)境，可以定義和描述各類結(jié)構(gòu)的總線協(xié)議；

2? 具有高度開放的協(xié)議模板管理接口，通過不斷在測試中積累各領(lǐng)域的應(yīng)用層協(xié)議，實現(xiàn)針對不同領(lǐng)域嵌入式系統(tǒng)自動化測試解決方案的快速構(gòu)建；

2? 提供豐富的測試監(jiān)控儀表和高度靈活的協(xié)議字段綁定方法，支持收發(fā)數(shù)據(jù)字段的雙向綁定，并具有表達(dá)式綁定能力；

2? 集可視化窗體靈活配置的人工測試與腳本化語言高級開發(fā)的自動化測試于一體，滿足初、中、高不同級別的測試需求；

2? 提供測試用例腳本編輯與開發(fā)環(huán)境，通過簡單的通道與協(xié)議字段賦值，便可完成測試數(shù)據(jù)的收發(fā)與測試邏輯的判斷；

2? 在底層實現(xiàn)了接口與通道管理、協(xié)議組包與解包、協(xié)議的校驗、測試參數(shù)的組合等功能，測試人員只需將關(guān)注點(diǎn)放在測試邏輯的設(shè)計與實現(xiàn)上；

2? 具有插件化的功能擴(kuò)充能力，無論是通信協(xié)議描述還是測試用例描述，平臺都提供了對插件的開發(fā)支持；

2? 具有分布式的軟件體系架構(gòu)和計算能力，可實現(xiàn)從單機(jī)到多機(jī)不同規(guī)模的測試環(huán)境構(gòu)建；

2? 可以完成單配置項單接口、單配置項多接口以及多配置項的系統(tǒng)測試任務(wù)；

2? 支持多種類型測試：功能測試、接口測試、邊界測試、強(qiáng)度測試、安全性測試、恢復(fù)性測試、性能測試、敏感性測試、余量測試、容量測試、壓力測試、隨機(jī)測試、異常測試等。

1.2 ??ETest主要功能

2? 支持的I/O接口類型包括：RS232、RS422、RS485、MIL-STD-1553B、CAN、TCP、UDP、AD、DA、DI、DO、ARINC429、FlexRay、SPI、I2C，并可靈活補(bǔ)充擴(kuò)展；

2? 支持對待測系統(tǒng)及其外圍環(huán)境、接口情況等進(jìn)行可視化仿真建模設(shè)計；

2? 提供通訊協(xié)議描述語言（DPD語言）及其編譯編輯環(huán)境；

2? 支持自定義可視化數(shù)據(jù)監(jiān)控界面以及實時數(shù)據(jù)監(jiān)控；

2? 具有測試用例腳本編輯、開發(fā)與執(zhí)行能力；

2? 實時記錄測試數(shù)據(jù)并加時間戳自動保存；

2? 提供測試數(shù)據(jù)生成、接口調(diào)試等相關(guān)工具；

2? 支持測試數(shù)據(jù)管理及統(tǒng)計分析；

2? 高精度的數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；

2? 可通過表格、儀表、枚舉、曲線圖以及狀態(tài)燈等手段實時監(jiān)測關(guān)鍵變量；

2? 可按二進(jìn)制、十進(jìn)制、十六進(jìn)制監(jiān)測輸入與輸出的原始報文并查詢過濾；

2? 支持測試記錄及結(jié)果的查看、測試報告自動生成；

2? 測試腳本語言支持時序測試和多線程任務(wù)測試；

2? 系統(tǒng)擴(kuò)展能力強(qiáng)，可靈活組建大、中、小不同規(guī)模的測試環(huán)境；

2? 可根據(jù)測試需求集成函數(shù)發(fā)生器與高性能示波器等測試設(shè)備。

1.3 ??ETest架構(gòu)

平臺由軟件和硬件兩部分組成。軟件部分主要包括測試設(shè)計軟件模塊、測試執(zhí)行服務(wù)軟件模塊、測試執(zhí)行客戶端軟件模塊、設(shè)備資源管理軟件模塊、各類接口設(shè)備調(diào)試軟件及測試輔助軟件等。硬件部分主要包括測試主機(jī)、各類接口板卡以及相關(guān)設(shè)備等。

根據(jù)不同的客戶需求，平臺提供USB模式( ETest-USB)、PCI工控機(jī)模式( ETest-PCI)與PXI機(jī)箱模式( ETest-PXI)三種類型的架構(gòu)產(chǎn)品。不同類型架構(gòu)產(chǎn)品測試主機(jī)與接口板卡的形式不同。

1.4 ??ETest應(yīng)用領(lǐng)域：

2、 ETest-PXI架構(gòu)產(chǎn)品

2.1 產(chǎn)品簡介

PXI總線架構(gòu)產(chǎn)品的硬件部分由PXI機(jī)箱、PXI控制器、PXI接口模塊組成，其中PXI接口模塊包括了RS232、RS422、RS485、CAN、1553B、AD采集、DA轉(zhuǎn)換、DI/DO以及數(shù)字示波器、函數(shù)發(fā)生儀等模塊。

PXI機(jī)箱中可安裝一個PXI控制器模塊以及NI或者其它廠商的多種總線接口模塊、數(shù)據(jù)采集轉(zhuǎn)換模塊（實現(xiàn)模擬輸入、模擬輸出、數(shù)字輸入、數(shù)字輸出、定時器、計數(shù)器）、信號發(fā)生器、數(shù)字萬用表等。

4.2 測試環(huán)境搭建

?ETest-PXI使用PXI架構(gòu)的機(jī)箱及控制器，搭配各種接口模塊，形成靈活的測試環(huán)境。利用了PXI背板的星形總線及系統(tǒng)時鐘實現(xiàn)精確的時間校準(zhǔn)與同步，適合于對實時性以及時間同步性要求極高的待測系統(tǒng)。

PXI機(jī)箱一般可選擇4槽、8槽、18槽等。用戶可以根據(jù)需要選擇并靈活搭建測試環(huán)境。

1）常規(guī)測試環(huán)境：一套 ETest-PXI，包括1個PXI機(jī)箱、1個PXI控制器、多個PXI接口模塊、采集模塊等。PXI機(jī)箱、PXI控制器及模塊參考圖如下所示：

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2）多套聯(lián)合測試環(huán)境：多套 ETest-PXI通過局域網(wǎng)聯(lián)網(wǎng)組成較大規(guī)模的測試環(huán)境。其中每套 ETest-PXI均包括1個PXI機(jī)箱，1個PXI控制器、多個PXI接口模塊、采集模塊等。多套 ETest-PXI通過網(wǎng)絡(luò)集中管理調(diào)控，實現(xiàn)對較大規(guī)模、更復(fù)雜待測系統(tǒng)的測試需求。

??? 根據(jù)需求，用戶還可以選擇專用測試機(jī)柜，在機(jī)柜中安裝PXI產(chǎn)品全部組件。

4.3 主要特點(diǎn)

2? 面向試驗、測量與數(shù)據(jù)采集場合PXI規(guī)范，使系統(tǒng)更適于在工業(yè)環(huán)境下使用，而且也更易于進(jìn)行系統(tǒng)集成；

2? 專門的系統(tǒng)參考時鐘、觸發(fā)總線、星形觸發(fā)線和模塊間的局部總線來滿足高精度定時、同步與數(shù)據(jù)通信要求。

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