TEM測(cè)試小知識(shí)
Q1：透射電鏡（TEM）樣品制備就有哪些方法？
A：1）粉末樣品：直接用分散劑超聲分散滴在載網(wǎng)上進(jìn)行觀察；或進(jìn)行樹(shù)脂包埋，超薄切片后，轉(zhuǎn)移銅網(wǎng)上進(jìn)行制樣；
2）復(fù)型技術(shù)：常用復(fù)型材料為非晶碳膜和各種塑料薄膜，對(duì)樣品沒(méi)有損壞；
3）化學(xué)減薄/雙噴減?。簩?duì)于大部分金屬樣品，可以進(jìn)行化學(xué)減薄或雙噴減??；
4）離子減?。簩?duì)于陶瓷或金屬合金合物，無(wú)法電解腐蝕，只能用離子減薄；
5）聚焦離子束FIB：與電解雙噴和離子減薄相比，可通過(guò)SEM在線觀察下進(jìn)行定點(diǎn)制樣，獲得更高質(zhì)量的TEM樣品。
Q2：TEM圖片比較模糊，可能是什么原因?qū)е拢?/strong>
A：一般模糊的原因有兩種情況：
1）材料的原子序數(shù)低（背景是碳膜，材料如果原子序數(shù)低導(dǎo)致和背景分不開(kāi)）；
2）材料太?。ㄒr度太低。導(dǎo)致背景信號(hào)增強(qiáng)，影響對(duì)比度）。
Q3：大尺寸顆粒拍TEM，制樣超聲分散不開(kāi)，聚集嚴(yán)重怎么改進(jìn)？
A：粉體制樣時(shí)一般采用乙醇超聲分散，常規(guī)為40W，超聲半小時(shí)，大尺寸可延長(zhǎng)超聲時(shí)間，一般1小時(shí)，再長(zhǎng)也沒(méi)有太大意義，而且容易導(dǎo)致超聲儀水溫過(guò)高，也不安全；尺寸大的顆?？梢钥紤]包埋后進(jìn)行離子減薄或超薄切片。
總結(jié)
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