AFM測(cè)試制樣及測(cè)試

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1、制樣流程

AFM制樣時(shí)，對(duì)樣品導(dǎo)電與否沒(méi)有要求，因此測(cè)量范圍比較廣泛。

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2、測(cè)試及結(jié)果分析

以氧化石墨烯AFM結(jié)果

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AFM應(yīng)用技術(shù)舉例

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AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環(huán)境下工作，且不受樣品導(dǎo)電性質(zhì)的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應(yīng)用。主要用途：

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1. 導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體表面的高分辨成像

2. 生物樣品、有機(jī)膜的高分辨成像

3. 表面化學(xué)反應(yīng)研究

4. 納米加工與操縱

5. 超高密度信息存儲(chǔ)

6. 分子間力和表面力研究

7 摩擦學(xué)及各種力學(xué)研究

8 在線檢測(cè)和質(zhì)量控制

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表面原子搬運(yùn)

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