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X-RAY檢測技術如何實現(xiàn)LED芯片封裝的無損檢測-深圳智誠精展

2022-08-23 10:07 作者:智誠精展科技  | 我要投稿

芯片是LED最關鍵的一環(huán),直接決定了LED的性能。LED芯片的受損會直接導致LED失效,芯片電極在焊接過程中容易產(chǎn)生質量缺陷,芯片電極本身蒸鍍不牢靠,導致焊線后電極脫落或損傷,芯片電極本身可焊性差,會導致焊球虛焊。

為了提高產(chǎn)品的封裝質量,因此需結合使用X-RAY無損檢測設備進行芯片封裝檢測,以最大限度地控制劣質產(chǎn)品和廢品。防止劣質芯片入庫,避免芯片質量問題造成的燈珠整體損失。

采用X-RAY無損檢測設備檢測封裝后的LED芯片,可直觀地看到其內部焊接、錯位等缺陷。

X-RAY檢測系統(tǒng)的基本原理是X射線的穿透性,它是依據(jù)光學原理,如果LED燈條中的線繞保險絲存在缺陷,則會改變物體對射線的衰減,導致X-RAY檢測裝置射線強度的改變,當線繞保險絲內部發(fā)生拉伸或斷裂時,有缺陷的X射線強度要高于無缺陷的X射線強度。

由于LED芯片器件封裝的小型、精細及復雜特性,常規(guī)的檢測方法幾乎難以實現(xiàn)封裝中的質量檢測,而采用X-RAY檢測技術在不破壞產(chǎn)品整體結構就能觀察到內部缺陷,是很有必要的檢測手段。

深圳市智誠精展科技有限公司是一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務于一體的專業(yè)X-RAY檢測設備、X光點料機和BGA返修臺設備制造商。由多名從事X-RAY檢測設備X光點料機和BGA返修設備十余年的技術骨干及銷售精英聯(lián)合創(chuàng)立,憑借專業(yè)水平和成熟的技術,在X-RAY檢測設備、X光點料機和BGA返修設備領域迅速崛起。


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