LED高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱，又稱led高低溫試驗(yàn)機(jī)、led高低溫試驗(yàn)箱、led高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、led高低溫箱等，適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱氣候環(huán)境溫度條件下（高低溫操作＆儲(chǔ)存、結(jié)露試驗(yàn)等），檢測產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變。符合國際性規(guī)范之要求以達(dá)到國際間量測程序一致性（含測試步驟、條件、方法）避免認(rèn)知不同，并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。

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產(chǎn)品型號(hào)：ST系列高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱

標(biāo)稱內(nèi)容積：225-1000升

溫度范圍：-70℃～＋150℃（試驗(yàn)箱可定制）；

溫度波動(dòng)度：±0.5℃；溫度偏差：±2.0℃

制冷系統(tǒng)：可靠節(jié)能環(huán)保制冷劑，冷凍技術(shù)源于日本、冷凍工藝設(shè)計(jì)可靠（回油彎制作）

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led高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱-試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法

GB／T 10592—2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB／T 2423.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068—2—1：2007，IDT）；

GB／T 2423.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫（IEC 60068—2—2：2007，IDT）；

GB／T 2423.22—2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化（IEC 60068—2—14：2009，IDT）；

GJB 150.3—86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)；

GJB／T 150.4—86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分低溫試驗(yàn)；

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led高低溫試驗(yàn)箱又稱為高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱，產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)技術(shù)、先進(jìn)的PID控制方法對(duì)環(huán)境溫度、濕度進(jìn)行測量和控制，高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱用于自動(dòng)化零部件通訊組件、電子電器零組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。更多環(huán)境試驗(yàn)箱小知識(shí)可咨詢斯派克相關(guān)人員。