產(chǎn)品概述

劉s181/2461/8938

橫河AQ6370D光譜分析儀在前身AQ6370C的基礎上改進了許多新功能。新增內(nèi)容包括:

數(shù)據(jù)記錄

門控采樣

分辨率校準

高級標記功能

增強型自動掃描模式

數(shù)據(jù)記錄功能記錄分析結果，如WDM分析(OSNR，光信號/噪聲比)、分布反饋激光二極管(DFB-LD)分析和每通道多達10，000個點的多峰測量，并帶有時間戳。記錄的數(shù)據(jù)可以以表格和圖形的形式顯示。該功能對于系統(tǒng)和設備的長期穩(wěn)定性測試和溫度循環(huán)測試非常有用。還可以存儲每次測量的光譜，以便查看和排除故障。

AQ6370D的高級標記功能添加了標記，以獲得指定光譜的功率密度和積分功率。這一新特性使得直接從頻譜中獲得信號的OSNR值變得容易，無論信號是否經(jīng)過調(diào)制。

門采樣功能有助于光傳輸系統(tǒng)的循環(huán)回路測試。AQ6370D使用外部門信號獲得通過特定環(huán)路的信號的光譜。與傳統(tǒng)的外部觸發(fā)或掃描使能功能相比，這種方法的優(yōu)勢在于速度快。

分辨率校準功能用于校準外部光源的噪聲等效帶寬。有了這一新功能，寬光譜光源的功率密度測量將更加精確。

自動掃描模式的掃描范圍已經(jīng)擴展，以支持多模式應用。

AQ6370D有標準或高性能版本。它的波長分辨率設置為0.02納米至2納米，波長精度為0.02納米(C+L波段)，最大水平靈敏度為-90 dBm。高性能型號的近場動態(tài)范圍為70 dB(峰值1 nm，分辨率0.05 nm)至50 dB(峰值0.1 nm，分辨率0.02 nm)。雜散光抑制比大于或等于70 dB，掃描時間小于0.2秒。對于100納米波長范圍。