相信大家在進行XRD測試時，會遇到標準半峰寬度，科學指南針平臺為大家解釋標準半峰寬度是什么，所謂的標準半峰寬應該是指儀器本身的寬化因子，和實驗時使用的狹縫條件關系最大，想得到它并不難。

?

比如在相同的測量條件下，把 Si 標樣放到儀器上測量 Si 的各個衍射峰的 Kα1 峰的半高寬，就是所謂的標準了。當你需要測量一系列非標樣 Si 粉時，就把標樣 Si 的 Kα1 峰的半寬作為標準半峰寬使用就可以了。

?

但，有很多時候合適的標準物質(zhì)很難得到，你就用另外的標準物質(zhì)（出峰位置很相近的標準物質(zhì)）代替，也完全沒有問題。也可以根據(jù) Si 標樣在整個掃描范圍內(nèi)的衍射峰的 Kα1峰的半高寬作出儀器寬化因子-2θ關系曲線來得到任意進度的儀器寬化因子。因為謝樂方程的適用條件也就是幾十到 200nm 之間，超出這個范圍誤差是很大的。

?

只要你在進行相同的一系列計算時使用相同的一個參數(shù)就一般就可以滿足研究工作的要求了。如果有測試方面的需求，可以聯(lián)系科學指南針，科學指南針平臺甄選優(yōu)質(zhì)儀器，為廣大科研工作者提供方便、快速、更具性價比的分析測試服務。

?

免責聲明：部分文章整合自網(wǎng)絡，因內(nèi)容龐雜無法聯(lián)系到全部作者，如有侵權，請聯(lián)系刪除，我們會在第一時間予以答復，萬分感謝。

關于XRD測試，今天就分享到這里。如果內(nèi)容對你有幫助，希望大家不要吝嗇點個贊哦，我們會繼續(xù)給大家輸出更多優(yōu)質(zhì)內(nèi)容~

最后，祝大家科研順利！如果你想和更多科研工作者學習探討，可以掃碼關注下哦~