GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分
GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分—標(biāo)準(zhǔn)名稱
GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.25 Environmental testing for electric and electronic products.Part2:Tsets Tset Z/AM:Combined cold/low air pressure tests
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GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分—適用范圍
本試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品對(duì)其貯存和使用中遇到的低溫-低氣壓綜合環(huán)埦的適應(yīng)性。本綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能揭示綜合環(huán)塊影響時(shí)使用。本部分規(guī)定的試驗(yàn)程序只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品
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GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分—試驗(yàn)?zāi)康?/strong>
提供標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)程序以確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫/低氣壓綜合環(huán)境使用和/或1￡存的適應(yīng)性
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GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分—引用文件
GB/T 2421.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：總則
GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.21電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)M:低氣 fl ￡
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)髙溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2424.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
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出自GF2022
