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整流橋KBP307-ASEMI如何測量好壞之電阻測試法

2021-10-27 16:17 作者:強元芯  | 我要投稿

編輯-Z

測量整流橋好壞的方法一般有兩種,一種是電阻測試法,一種是壓降測試法。整流橋KBP307-ASEMI如何測量好壞?我們可以用電阻測試法。

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KBP307參數(shù)描述

型號:KBP307

封裝:KBP-4/DIP-4

特性:整流扁橋

電性參數(shù):3A 1000V

芯片材質:GPP

正向電流(Io):3A

芯片個數(shù):4

正向電壓(VF):1.10V

浪涌電流Ifsm:50A

漏電流(Ir):10uA

工作溫度:-55~+150℃

恢復時間(Trr):500ns

引線數(shù)量:4

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電阻測試法是利用二極管的單向導通特性,測試其正向阻值讀數(shù)和反向截止時無讀數(shù)來判斷其好壞。這種測量整流橋KBP307質量的方法是一種很常見的方法。

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測試工具和對象:一個普通萬用表和一個待判斷的KBP307整流橋。

測試條件設置:萬用表設置在20K歐姆檔,紅筆萬用表正極,黑筆萬用表負極。

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測試方法和步驟是:紅表筆接KBP307整流橋的負極,黑表筆分別接兩個AC引腳。如果有讀數(shù)顯示,說明負極和AC之間的兩顆芯片正常;黑筆接KBP307整流橋正極,紅筆分別檢測兩個AC腳,如果有讀數(shù)顯示,說明整流橋KBP307正極與AC之間的兩顆芯片正常的。

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測試結果總結:如果測試時反饋的結果如上,說明KBP307整流橋4個芯片正常,萬用表讀值為測試芯片內阻值;如果存在不一致,例如數(shù)值為1(無窮大)表示整流橋KBP307中的芯片已損壞。

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以上就是關于整流橋KBP307-ASEMI如何測量好壞之電阻測試法的詳細介紹。ASEMI產品廣泛應用于:開關電源、LED照明、集成電路、移動通訊、計算機、工業(yè)自動化控制設備、汽車電子以及液晶電視、IoT、智能家居、醫(yī)療儀器、 電磁爐等大小家電。


整流橋KBP307-ASEMI如何測量好壞之電阻測試法的評論 (共 條)

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