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數字IGBT驅動器環(huán)境可靠性EMC測試服務

2023-10-18 07:46 作者:可靠性及EMC測試  | 我要投稿

北京儀綜所實驗室提供數字IGBT驅動器環(huán)境可靠性EMC測試服務,提供第三方檢測報告,國家認可的CNAS檢測報告,CMA檢測報告。檢測實驗找儀綜所實驗室彭光瓊V一三六九一零九三五零三。

1、外觀檢查:樣品外觀不應有凹痕、劃傷和變形,鍍涂層不應起泡、龜裂、脫落,零部件不應有松動;

2、靜電放電試驗:接觸放電8kv,空氣放電15kV;

3、射頻電磁場輻射抗擾度試驗:80MHZ-1000MHZ,30v/m;

4、脈沖磁場試驗:磁場強度1000A/m;

5、工頻磁場試驗:持續(xù):100A/m,瞬時:1000A/m;

6、高溫試驗:+85℃,16h(做工作狀態(tài)還是貯存狀態(tài))

7、低溫試驗:-40℃,16h(做工作狀態(tài)還是貯存狀態(tài))

8、交變濕熱試驗:溫度范圍25℃~55℃,循環(huán)2次;

9、防護等級試驗:IP68

10、振動試驗:測試頻率10HZ-150HZ,振動三個相互垂直的方向,X,YZ,峰值加速度10m/s2,掃頻5次循環(huán),搜索共振點,每個共振點保持30min.

測試標準:

GB/T17626.2-2018《電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗》

GB/T 17626.3-2016《電磁兼容 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗》

GB/T17626.9-2011《電磁兼容 試驗和測量技術 脈沖磁場抗擾度試驗》

GB/T17626.8-2006《電磁兼容 試驗和測量技術 工頻磁場抗擾度試驗》

?GB/T25119-2021《軌道交通 機車車輛電子裝置》

GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫》?

GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B:高溫》

GB/T2423.4-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分 試驗方法 試驗 Db:交變濕熱(12h+12h 循環(huán))》

GB/T 2423.10-2019 《環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 Fc: 振動(正弦)》


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