平板探測器和線陣探測器是無損檢測中常用的兩種X射線探測器。它們在結(jié)構(gòu)和工作原理上有一些明顯的不同點：
1. 結(jié)構(gòu)：平板探測器通常由較大的單個探測器模塊組成，可以覆蓋較大的檢測面積。而線陣探測器是由多個排列在一條線上的小型探測器組成，形成一個線性陣列。
2. 探測方式：平板探測器采用全像式（全面輻射）探測，X射線從不同方向通過被檢測物體，探測器可以接收整個范圍內(nèi)的輻射。而線陣探測器是采用逐點掃描（點射線）探測，線陣中的探測器逐個掃描被檢測物體，形成點射線的方式進行檢測。

3. 分辨率：由于其較大的探測面積，平板探測器通常具有較高的空間分辨率，可以提供更細微的檢測細節(jié)。線陣探測器雖然相對分辨率較低，但由于可以進行逐點掃描，對于有限空間中的局部區(qū)域進行更精確的檢測。

4. 適應(yīng)性：平板探測器適用于大面積的無損檢測，可以有效檢測較大和均勻分布的缺陷。而線陣探測器適用于對細長物體、復(fù)雜幾何形狀或限制空間內(nèi)的檢測，能夠提供更高的靈活性和多樣性。
需要注意的是，選擇平板探測器還是線陣探測器取決于具體的應(yīng)用需求和被檢測物體的特性。在實際應(yīng)用中，不同的探測器類型可能會相互補充，以獲得更全面和準確的無損檢測結(jié)果。