應(yīng)力測(cè)試儀TSK-32-32 動(dòng)態(tài)靜態(tài)應(yīng)變測(cè)量 殘余應(yīng)力測(cè)試

應(yīng)力儀或者應(yīng)變儀是來測(cè)定物體應(yīng)力的儀器。一般通過采集應(yīng)變片的信號(hào),而轉(zhuǎn)化為電信號(hào)進(jìn)行分析和測(cè)量。應(yīng)力測(cè)試一般的方法是將應(yīng)變片貼在被測(cè)定物上,使其隨著被測(cè)定物的應(yīng)變一起伸縮,這樣里面的金屬箔材就隨著應(yīng)變伸長(zhǎng)或縮短。很多金屬在機(jī)械性地伸長(zhǎng)或縮短時(shí)其電阻會(huì)隨之變化。應(yīng)變片其實(shí)就是應(yīng)用了這個(gè)原理,通過測(cè)量電阻的變化而對(duì)應(yīng)變進(jìn)行測(cè)定。
TSK-32是一款便攜式應(yīng)力測(cè)試儀,主要用于PCBA生成SMT和DIP應(yīng)變測(cè)試、分板應(yīng)力測(cè)試、ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試和跌落應(yīng)力測(cè)試等等,也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試,玻璃應(yīng)力測(cè),以及一些結(jié)構(gòu)件的應(yīng)力測(cè)試等等。儀器體積小,便攜帶;軟件操作簡(jiǎn)單,上手方便,能快速進(jìn)行測(cè)量并根據(jù)IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)一鍵自動(dòng)生成報(bào)告。對(duì)生產(chǎn)測(cè)試流程進(jìn)行完整的應(yīng)力測(cè)試分析,該系統(tǒng)在滿足常規(guī)的應(yīng)力數(shù)值分析、應(yīng)力速率分析,等基本功能要求的同時(shí),根據(jù)客戶后續(xù)發(fā)展需求,進(jìn)行功能和通道數(shù)的擴(kuò)展(8通道、16通道、24通道、32通道,可根據(jù)情況選配)。

TSK應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀的特點(diǎn):
1.小型化性價(jià)比高的精密測(cè)量?jī)x器。
2.便攜式,模塊式擴(kuò)展。
3.一鍵自動(dòng)生成報(bào)表及報(bào)表合并功能。
4.構(gòu)成簡(jiǎn)易,通過電腦來控制測(cè)量。
6.采用模塊化方式,每個(gè)應(yīng)變模塊有8個(gè)采集通道,TSK-64最少含1個(gè)8通道應(yīng)變采集卡,為8通道,可以進(jìn)行擴(kuò)展。
7.采集信號(hào)為120/350歐姆應(yīng)變片(采用不同模塊)。
8.允許采樣率為10KHz(32通道同時(shí)采樣)。
9.操作菜單以對(duì)話框形式,中文界面,簡(jiǎn)單快速。
10.結(jié)合國(guó)際上應(yīng)變片測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)Intel標(biāo)準(zhǔn)和IPC-9704標(biāo)準(zhǔn),一鍵全自動(dòng)生成報(bào)告,并判斷“Pass” or“ Failed”。
TSK應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀的相關(guān)參數(shù):
◆ 單模塊通道數(shù):8/4個(gè)模擬輸入通道
◆ 采樣率:10KHZ/通道
◆ 采樣模式:多通道同步采樣
◆ ADC分辨率:24位
◆ 支持應(yīng)變式傳感器電阻值:TSK-32A系列支持120Ω,TSK-32B系列支持350Ω
◆ 支持惠斯通電橋類型:1/4 橋
◆ 轉(zhuǎn)換精度:3.5062nV/V/LSB
◆ 精度增益誤差:0.02%(已校準(zhǔn),常規(guī)測(cè)量條件25℃,±5℃)
◆ 全量程范圍:±29.4mV/V(+55000uE/-55000uE)
◆ 端子間過壓保護(hù):±30V
◆ 穩(wěn)定性:增益漂移6ppm/℃
◆ 機(jī)箱接口類型:USB2.0高速輸入
◆ 供電電源:11到30VDC,220VAC
◆ 工作溫度:-40℃~70℃,工作濕度:10%~90% RH,無凝結(jié)
◆ 存儲(chǔ)溫度:-40℃~85℃,存儲(chǔ)濕度:5%~90% RH,無凝結(jié)
◆ 防護(hù)等級(jí):IP 40