膜厚測試儀是常見的一種設(shè)備鍍層檢測工具，采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性鍍層的厚度，因此膜厚測試儀受到很多廠商的追捧。它在平時的使用中對于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，那么哪些因素會影響膜厚測試儀的性能?下面由深圳立儀公司為大家分享：

　　一、基體金屬磁化
　　因為膜厚測試儀磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對儀器進行校對。并且每一種膜厚測試儀都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。
　　二、邊緣效應(yīng)
　　由于膜厚測試儀對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量不可靠。所以膜厚測試儀的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
　　三、表面粗糙度
　　基體金屬和表面粗糙度對膜厚測試儀測量有影響。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點。

　　四、磁場

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會干擾膜厚測試儀測量厚度的工作。并且膜厚測試儀對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。值得注意的是在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

　　以上幾個因素都會影響膜厚測試儀的性能，立儀科技小編提醒用戶需要格外注意。其實任何一種設(shè)備儀器都會有影響誤差，尤其對于比較精密的儀器，所有不當(dāng)?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來很大的影響，提高專業(yè)素養(yǎng)是避免不當(dāng)操作的關(guān)鍵。