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蔡司三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x光學(xué)探頭——ZEISS DotScan

2022-08-03 11:37 作者:蔡司三坐標(biāo)-無錫靈恩  | 我要投稿

ZEISS DotScan——測(cè)量無死角

ZEISS DotScan 采用色階共聚焦白光探頭。


敏感、柔軟、具反射性或低對(duì)比度的表面。因?yàn)閷?duì)于這類表面,探針或相機(jī)傳感器已超過其能力所及。


1、使用 ZEISS DotScan 時(shí),具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影劑,即可進(jìn)行掃描。因此,使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。

2、ZEISS DotScan 是測(cè)量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的不二選擇。

蔡司DotScan的應(yīng)用范圍包括敏感、反射或低對(duì)比度的表面。

3、使用 ZEISS DotScan 時(shí),具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影劑,即可進(jìn)行掃描。因此,使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。

4、用途多樣靈活

ZEISS DotScan 共有三種探頭尺寸,適用于三種不同的測(cè)量范圍:10、3 和 1 mm。探頭可在一次 CNC 運(yùn)行期間全自動(dòng)更換,以適用于不同的表面,或改換其他光學(xué)探頭。

關(guān)節(jié)軸每次可移動(dòng) 2.5 度,可將 ZEISS DotScan 調(diào)整到垂直于待測(cè)量部件。且由于 ZEISS DotScan 1 mm 的測(cè)量角度是 +/- 30 度,因此更大曲率的部件也能測(cè)量。再加上探針的操作模式,使得各種材料都能毫無問題地從各種角度進(jìn)行測(cè)量。配合使用轉(zhuǎn)臺(tái),甚至連 4 軸的測(cè)量工作也難不倒 ZEISS DotScan。


ZEISS CONTURA、ZEISS ACCURA、ZEISS O-INSPECT、ZEISS PRISMO


蔡司三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x光學(xué)探頭——ZEISS DotScan的評(píng)論 (共 條)

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